IZENA Fabrikazio gehigarri prozesuentzako defektu detekzio algoritmoak

AZALPENA

Fabrikazio gehigarriko prozesuetan ematen diren akatsak detektatzea, hala nola SLM, WAAM edo L-DED. Irudiak prozesatzearen bidez (ikusmen edo termografia) edo hauts-oheko emisio-mailen bidez, piezetan porotsutasunak, hauts-faltak edo desbideratze geometrikoak identifikatzen dira. Iragarpen algoritmoak lazo itxiko sistemen barruan sartu daitezke, prozesua denbora errealean bideratu eta egokitzeko.

Aplikazio-eremuak

Hedapena eta Aplikazioa

EKIPO ETA OSAGAI GARRANTZITSUENAK

  • Nagusiki ikusmen artifizialean oinarritzen diren inspekzio sistemak

    Nagusiki ikusmen artifizialean oinarritzen diren inspekzio sistemak

  • WAAM, SLM edo L-DED prozesuetan oinarritutako fabrikazio gehigarri makinak.

    WAAM, SLM edo L-DED prozesuetan oinarritutako fabrikazio gehigarri makinak.

AKTIBOAK ESKAINTZEN DITUEN ZERBITZUAK

Ikusmen optikoan oinarritutako defektu detekzioa

Ikusmen artifizialaren eta ikaskuntza sakonaren oinarritutako algoritmoak, defektuen (poroak, LoF, hautsa pilatzea, etab.) detekzio eta segmentaziorako, WAAM, SLM edo DeD bezalako fabrikazio gehigarrian.

Termografian oinarritutako inspekzioa

Termogramaen analisia, prozesuan atal atipikoak identifikatzeko eta segmentatzeko.

AKTIBOA KUDEATZEN DUEN ERAKUNDEA

LORTEK S.C.
Harremanetarako pertsona:
Maitane Ipiñazar
mipinazar@lortek.es