IZENA Difractómetro de Rayos X
Equipo de difracción X-Pert MRDde PANalytical. Tiene un radio de 320 mm y cuenta con una plataforma portamuestras con cuna de Euler (goniómetro) que permite no sólo el giro alrededor del eje del difractómetro (q) sino también alrededor de los dos ejes perpendiculares al mismo, f y y, por lo que es ideal para la medida de texturas cristalográficas y tensiones residuales. Permite además el movimiento en las direcciones x, y y z para el correcto posicionamiento de la muestra. Se trata de un difractómetro horizontal (el movimiento 2theta del detector se realiza en el plano horizontal) por lo que el portamuestra está en posición vertical que permite medir muestras con un peso máximo de 500 g y una altura máxima de 24 mm. Permite trabajar tanto con óptica de Bragg-Brentano como de haz paralelo. Este última se emplea especialmente para medidas de fases, parámetros de red y tamaño de cristalitos en películas delgadas mediante el método de incidencia rasante. Dispone de radiación de Cu y de Cr. Cuenta con un detector proporcional puntual. Este equipo se utiliza para tanto para la identificación y cuantificación de fases como para la medida de tensiones residuales (con radiación de Cu o Cr), de texturas cristalográficas y de análisis de fases en películas delgadas mediante ángulo rasante (con radiación de Cu) en muchos tipos de materiales (metales, cerámicos) y películas delgadas. Cuenta con los softwares HIGH SCORE para la identificación de fases así como STRESS y TEXTURE para el análisis de tensiones residuales y texturas. La difracción de rayos-X es una técnica insustituible para el análisis y caracterización de un amplio rango de materiales. En Ceit-IK4 se viene empleando en gran parte de los proyectos de la División de Materiales y Fabricación, así como en el Grupo de Monitorización de la División de Transporte y Energía para la caracterización de películas delgadas y sustratos nanoestructurados para distinto tipo de sensores innovadores.
Aplikazio-eremuak
Artezketa eta akabera prozesoak
EKIPO ETA OSAGAI GARRANTZITSUENAK
- Tubos de Co y Cr
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X BRUKER D8 ADVANCE A25 marra-difrakzioko ekipoa
X BRUKER D8 ADVANCE A25 marra-difrakzioko ekipoa. 250 mm-tik 300 mm-ra arteko erradioa du, eta islapen eta transmisio moduan lan egiteko aukera ematen du. Hainbat plataforma ditu amuestra-etxeak: XYZ mahaia, softwarearen bidez erabat kontrolatua, laginaren posizionamendu zehatza edo X marra-sortaren bidez mapatzea ahalbidetzen duena; Euler sehaska (goniometroa), difraktometroaren ardatzaren inguruan biratzea ahalbidetzeaz gain, bi ardatz perpendikularren inguruan biratzea ahalbidetzen duena; beraz, aproposa da PSI edo side-inklinatio metodoaren bidez testura kristalografikoak eta hondar-tentsioak neurtzeko; eta errotazio monitorizatua duen plataforma, islapen- eta transmisio-moduetan lan egiteko aukera ematen duena. Optika primarioak aukera ematen du Bragg-Brentanon dibergentzia aldakor automatikoko zirrikituarekin zein sorta paraleloarekin lan egiteko, azken horrek Cu Karen erradiaziorako Göbel ispilu bat eta X izpien erradiazio ohikoenekin lan egiten duen modulu polikapilar bat barne, ehundurak eta hondar-tentsioak neurtzeko aproposa. Energia dispertsiboen eta bereizmen handiko 0D/1D LYNXEYE XE-T detektagailu ultralasterra du, KB fluoreszentzia eta erradiazioa ezabatzen dituena, eta monokromadore gisa jokatzen du sorta difraktatuan. Cu, Co eta Cr erradiazioa du. Ekipo hau erabiltzen da faseak identifikatzeko eta kuantifikatzeko, bai eta hondar-tentsioak, egitura kristalografikoak eta faseen analisiak neurtzeko ere, sestra-angeluaren bidez geruza meheetan (Cu erradiazioarekin), material mota askotan (metalak, zeramikoak) eta film meheetan. Faseak identifikatzeko EVA softwareak ditu, baita hondar-tentsioak eta testurak aztertzeko LEPTOS eta TEXTURE softwareak ere, hurrenez hurren. Gainera, TOPAS softwarea du faseen analisi kuantitatiborako eta mikroegituren analisirako, besteak beste. X-MARREN difrakzioa teknika ordezkaezina da materialen tarte zabal bat aztertzeko eta karakterizatzeko. Ceiten, Materialen eta Fabrikazioaren Dibisioaren proiektu askotan erabiltzen da, baita Garraio eta Energia Dibisioan ere, sentsore berritzaile mota desberdinetarako film mehe eta substratu nanoegituratuak karakterizatzeko.
AKTIBOAK ESKAINTZEN DITUEN ZERBITZUAK
Cuantificación de la fracción de austenita retenida en aceros
Medida de la cantidad de austenita retenida en aceros templados a partir de la medida de la intensidad integrada de varios picos de difracción de austenita y ferrita, según norma ASTM E975
Identificación y cuantificación de fases por incidencia normal en distintos materiales y por incidencia rasante en películas delgadas. Cuantificación de tamaño de cristalito y microtensiones.
Identificación de las fases cristalográficas presentes en un material y su cuantificación a partir de la intensidad de los picos (método Rietveld), tanto en materiales bulk (incidencia normal) como en películas delgadas (ibcidencia rasante - GIXD). cuantificación de tamaño de cristalito y microtensiones a partir de la anchura de los picos de difracción
Medida de Tensiones residuales
El equipo permite medir las tensiones residuales superficiales presentes en materiales debido a factores muy diversos como pueden ser el mecanizado, procesos de conformado, tratamiento térmico, procesos de soldadura, fabricación aditiva etc. También se pueden medir las tensiones presentes en películas delgadas tras su deposición. Con la eliminación controlada de material de la superficie mediante pulido electrolítico es posible realizar medidas de tensiones residuales en función de la profundidad. Para el análisis de tensiones residuales se emplea habitualmente el método del sen2psi, y se puede medir tanto en modo PSi como en modo OMEGA.
Textura cristalográfica
Medida de la distribución de orientaciones cristalinas de materiales y películas delgadas. La textura se origina debido a los procesos de conformado en materiales metálicos, así como tras la deposición de películas delgadas, en procesos de fundición etc.
AKTIBOA KUDEATZEN DUEN ERAKUNDEA
Harremanetarako pertsona:
Carmen García-Rosales
cgrosales@ceit.es