IZENA Dual Beam FEG-SEM FIB
Equipo DualBeam QUANTA3DFEG de FEI. Dispone de un microscopio electrónico de barrido de alta resolución (~1nm) y de un cañón de iones de Galio que permite la deposición y ablación de material. Además, se ha desarrollado un software para análisis de imágenes que permite resolver las tensiones residuales a partir de las imágenes obtenidas de FEGSEM en un rango de escalas desde 1 um hasta 800 um y unas 0.5 - 50 um de profundidad.
Aplikazio-eremuak
Artezketa eta akabera prozesoak
EKIPO ETA OSAGAI GARRANTZITSUENAK
- DualBeam QUANTA3DFEG
- Software DIC basado en MATLAB
AKTIBOAK ESKAINTZEN DITUEN ZERBITZUAK
Medición de la tensión residual perfilada en so
Distribución de tensiones residuales a través de una superficie soldada con resolución micrométrica. Estudio del perfil de tensiones residuales en la zona afectada por el calor (HAZ).
Medida de la distribución de tensiones residuale
Distribución de tensiones residuales a lo largo de una superficie rectificada con resolución micrométrica.
Medida de perfiles de tensiones en profundidad de
Medida del tensor de tensiones residuales en profundidad en el rango de 0.5-50 micras.
AKTIBOA KUDEATZEN DUEN ERAKUNDEA
Harremanetarako pertsona:
Jon Alkorta
jalkorta@ceit.es